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鍍層厚度測(cè)試儀

描述：Thick800A專門研發(fā)用于鍍層行業(yè)的一款儀器，可全自動(dòng)軟件操作，可多點(diǎn)測(cè)試，由軟件控制儀器的測(cè)試點(diǎn)，以及移動(dòng)平臺(tái)。是一款功能強(qiáng)大的儀器，配上專門為其開發(fā)的軟件，在鍍層行業(yè)中可謂大展身手。

廠商性質(zhì)
經(jīng)銷商
更新時(shí)間
2025-05-18
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詳細(xì)介紹

品牌	其他品牌	價(jià)格區(qū)間	面議
產(chǎn)地類別	國(guó)產(chǎn)	應(yīng)用領(lǐng)域	醫(yī)療衛(wèi)生,化工,生物產(chǎn)業(yè),電子/電池,包裝/造紙/印刷

鍍層厚度測(cè)試儀儀器介紹

Thick800A專門研發(fā)用于鍍層行業(yè)的一款儀器，可全自動(dòng)軟件操作，可多點(diǎn)測(cè)試，由軟件控制儀器的測(cè)試點(diǎn)，以及移動(dòng)平臺(tái)。是一款功能強(qiáng)大的儀器，配上專門為其開發(fā)的軟件，在鍍層行業(yè)中可謂大展身手。

鍍層厚度測(cè)試儀性能特點(diǎn)

1、上照式
2、測(cè)試組件可升降
3、高精度移動(dòng)平臺(tái)
4、小準(zhǔn)直器
5、高分辨率探頭
6、可視化操作
7、自動(dòng)定位高度
8、自動(dòng)尋找光斑
9、鼠標(biāo)定位測(cè)試點(diǎn)
10、良好的射線屏蔽
11、超大樣品腔設(shè)計(jì)
12、測(cè)試口安全防護(hù)

技術(shù)指標(biāo)

元素分析范圍從鈉(Na)到鈾(U)。
一次可同時(shí)分析zui多24個(gè)元素。
分析檢出限可達(dá)1ppm。
分析含量一般為1ppm到99.9％。
任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型。
相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型。
多變量非線性回收程序。
多次測(cè)量重復(fù)性可達(dá)0.1％。
長(zhǎng)期工作穩(wěn)定性為0.1％。
溫度適應(yīng)范圍為15℃至30℃。
電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源。

標(biāo)準(zhǔn)配置

開放式樣品腔。
精密二維移動(dòng)樣品平臺(tái)，探測(cè)器和X光管上下可動(dòng)，實(shí)現(xiàn)三維移動(dòng)。
雙激光定位裝置。
鉛玻璃屏蔽罩。
Si-Pin探測(cè)器。
信號(hào)檢測(cè)電子電路。
高低壓電源。
X光管。
高度傳感器
保護(hù)傳感器
計(jì)算機(jī)及噴墨打印機(jī)

應(yīng)用領(lǐng)域

黃金，鉑，銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測(cè).
金屬鍍層的厚度測(cè)量, 電鍍液和鍍層含量的測(cè)定。
主要用于貴金屬加工和首飾加工行業(yè)；銀行，首飾銷售和檢測(cè)機(jī)構(gòu)；電鍍行業(yè)。

測(cè)試膜：又名X射線熒光光譜儀樣品薄膜，邁拉膜，麥拉膜，XRF測(cè)試薄膜，XRF樣品膜，樣品薄膜，EDX薄膜，EDX樣品薄膜，ROHS檢測(cè)膜，光譜儀樣品薄膜；是應(yīng)用于X熒光光譜儀的用于保留液體、粉末、泥漿或固體樣本在樣本杯內(nèi)的物質(zhì)。專用樣品薄膜是使用方便簡(jiǎn)捷，無污染的測(cè)試用樣品薄膜，廣泛應(yīng)用于Elite、fischer、牛津、博曼、先鋒、日立、天瑞等各種品牌的EDX/XRF光譜儀。

光譜儀樣品薄膜 測(cè)試膜 XRF樣品膜光譜儀樣品薄膜

常用的鎳銀或鎳金層一般1~3微米。鎳層較厚，要起阻擋層作用。
另外鍍的方法上有電鍍和EN鍍，鍍層表面質(zhì)量不一樣。
分立半導(dǎo)體器件的電鍍一般采用純錫或錫基和金電鍍，這幾年由于歐洲RoHS指令生效，純錫電鍍較為流行。純錫電鍍有Wisker的問題，所以鍍層厚度的最小值一般要求超過8微米，并配合150C回火。
不同的封裝工藝，對(duì)鍍層的要求不盡一樣，業(yè)界沒有固定的標(biāo)準(zhǔn)。只要能做到滿足可靠性就可以了，200-600微英寸。